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アドバンテストは2月28日、同社の計測システム「EVA100」に向け、車載デバイスなどでニーズが高い高精度アナログ/ミクスドシグナルICの主要パラメータの計測を可能とする高分解能・高速アナログデバイス向けモジュール「HF-AWGD(high-frequency arbitrary waveform generator and digitizer:高周波任意波形発生器およびデジタイザ)」を発表した。

同も樹ーrうは、デュアル・チャネルの高速AWG(任意波形発生器)とデジタイザを搭載しており、高速16ビットA/Dコンバータ(ADC)やオペアンプなどの解析に対応する。また、直感的操作が可能なGUIによるパターン・ジェネレータ機能も有しているため、波形パターンファイル不要で信号出力も可能だという。

さらにAWGの高調波歪みは-102dBと低いため、高精度な計測が可能なほか、大容量の波形サンプルが可能なキャプチャメモリや、広帯域かつ幅広い入力電圧レンジをカバーした波形デジタイザを活用することで、高速かつ高精度コンバータやベースバンド・デバイスの試験に対応するとしている。

なお、同モジュールはすでに複数の顧客に出荷されており、イメージセンサやデータコンバータなどの計測に活用されているという。

(小林行雄)