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日本ナショナルインスツルメンツ(日本NI)は4月5日、半導体テスト向けテスト管理用ソフトウェア「TestStand Semiconductor Module」を発表した。

同製品は半導体テストシステムの開発、実装、保守の最適化および迅速化を可能にするテストエグゼクティブで、半導体製造工場で使用する「NI半導体テストシステム(STS:Semiconductor Test System)」と同じプログラムパラダイムを使い、実験室での特性評価システムを開発することができる。同ソフトウェアはテスト管理用ソフトウェア「TestStand」のアドオンツールであり、PXIやTestStandと併用することでSTSが採用する従来型テストヘッドのアーキテクチャとは別のラック&スタック型の半導体テストシステムを独自に構築することも可能となっている。

このほか、複数のテストサイトにわたってコードを再利用することが可能であったり、ピンのマッピングを直観的に行うことを可能にするエディタ機能、パラメトリックテストの結果を業界標準のSTDF(Standard Test Data Format)形式で記録可能であるなど、同ソフトを活用することで開発コストの削減と生産スループットの向上につなげることができる。

(神山翔)