NECは9月4日、顔検出/顔照合ソフトウェア開発キットである「NeoFace」に顔認証アルゴリズムを搭載し、新バージョンとして販売開始した。なお、同アルゴリズムは米国標準技術研究所(NIST)による顔認証技術ベンチマーク・テスト(FRVT2013)で第1位を獲得し、世界最高レベルにあると同社はいう。

新製品は、真正面ではないやや横向きの顔画像や解像度が低い画像、照明が暗い場所など、厳しい撮像環境での認証精度の改善や、大規模データベースでの照合速度の向上など、性能を大幅に強化したとのこと。

同製品は、ベンチマーク・テスト第2位のアルゴリズムと比べて1/8のエラー数、ベンチマーク・テスト参加の全アルゴリズムの中で最高速、従来のバージョンと比べて1対Nの認証精度が28%向上、同じく1対1の認証エラー率を2/3低減といった特長を持つ。

同製品の利用により、官公庁から地方公共団体、民間企業まで、大小多様なシステムに、出入国管理や本人確認といった幅広い用途で顔認証を容易に組み込むことができ、利便性とセキュリティ性の向上を実現するとしている。

(山本善之介)